「MMBT3904」晶體管測試儀的介紹以及正確使用方法 - 壹芯微

型號：MMBT3904(200mA,40V)

封裝：SOT-23/TO-92/SOT-223/SOT-323/SOT-523/SOT-723

品牌：壹芯微|類型：晶體管TRANSISTORS

多種封裝 尺寸不同 參數一致 免費樣品 歡迎咨詢

一、晶體管測試儀作用

可測試儀性能穩定，能自動讀出準確數據，使用方便，適用于電子愛好者、電子開發者、設計者、與電子維修者必需小儀器。它可測各種二極管，三極管，可控硅，MOS場效應管;能判斷器件類型，引腳的極性，輸出HFE，閥電壓，場效應管的結電容，附加條件可測電容和電阻等。特別適合晶體管配對和混雜表貼元件識別。

二、什么是晶體管測量儀器?

眾所周知，晶體管測量儀器是以通用電子測量儀器為技術基礎，以半導體器件為測量對象的電子儀器。用它可以測試晶體三極管(NPN型和PNP型)的共發射極、共基極電路的輸入特性、輸出特性;測試各種反向飽和電流和擊穿電壓，還可以測量場效管、穩壓管、二極管、單結晶體管、可控硅等器件的各種參數。

下面以XJ4810型晶體特性圖示儀為例介紹晶體管圖示儀的使用方法。

三、XJ4810型晶體管特性圖示儀面板功能介紹

XJ4810型晶體管特性圖示儀面板示：

1. 集電極電源極性按鈕，極性可按面板指示選擇。

2. 集電極峰值電壓保險絲：1.5A。

3. 峰值電壓%：峰值電壓可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之連續可調，面板上的標稱值是近似值，參考用。

4. 功耗限制電阻：它是串聯在被測管的集電極電路中，限制超過功耗，亦可作為被測半導體管集電極的負載電阻。

5. 峰值電壓范圍：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四擋。當由低擋改換高擋觀察半導體管的特性時，須先將峰值電壓調到零值，換擋后再按需要的電壓逐漸增加，否則容易擊穿被測晶體管。

AC 擋的設置專為二極管或其他元件的測試提供雙向掃描，以便能同時顯示器件正反向的特性曲線。

6. 電容平衡：由于集電極電流輸出端對地存在各種雜散電容，都將形成電容性電流，因而在電流取樣電阻上產生電壓降，造成測量誤差。為了盡量減小電容性電流，測試前應調節電容平衡，使容性電流減至最小。

7. 輔助電容平衡：是針對集電極變壓器次級繞組對地電容的不對稱，而再次進行電容平衡調節。

8. 電源開關及輝度調節：旋鈕拉出，接通儀器電源，旋轉旋鈕可以改變示波管光點亮度。

9. 電源指示：接通電源時燈亮。

10. 聚焦旋鈕：調節旋鈕可使光跡最清晰。

11. 熒光屏幕：示波管屏幕，外有座標刻度片。

12. 輔助聚焦：與聚焦旋鈕配合使用。

13. Y軸選擇(電流/度)開關：具有 22擋四種偏轉作用的開關。可以進行集電極電流、基極電壓、基極電流和外接的不同轉換。

14. 電流/度&TImes;0.1倍率指示燈：燈亮時，儀器進入電流/度&TImes;0.1倍工作狀態。

15. 垂直移位及電流 / 度倍率開關：調節跡線在垂直方向的移位。旋鈕拉出，放大器增益擴大10倍，電流/度各擋IC標值&TImes;0.1，同時指示燈14亮。

16. Y 軸增益：校正Y軸增益。

17. X 軸增益：校正X軸增益。

18. 顯示開關：分轉換、接地、校準三擋，其作用是：

⑴轉換：使圖像在Ⅰ、Ⅲ象限內相互轉換，便于由NPN管轉測PNP管時簡化測試操作。

⑵接地：放大器輸入接地，表示輸入為零的基準點。

⑶校準：按下校準鍵，光點在X、Y軸方向移動的距離剛好為10度，以達到10度校正目的。

19. X軸移位：調節光跡在水平方向的移位。

20. X軸選擇(電壓/度)開關：可以進行集電極電壓、基極電流、基極電壓和外接四種功能的轉換，共17擋。

21. “級 /簇”調節：在0～10的范圍內可連續調節階梯信號的級數。

22. 調零旋鈕 ：測試前，應首先調整階梯信號的起始級零電平的位置。當熒光屏上已觀察到基極階梯信號后，按下測試臺上選擇按鍵“零電壓”，觀察光點停留在熒光屏上的位置，復位后調節零旋鈕，使階梯信號的起始級光點仍在該處，這樣階梯信號的零電位即被準確校正。

23. 階梯信號選擇開關：可以調節每級電流大小注入被測管的基極，作為測試各種特性曲線的基極信號源，共22擋。一般選用基極電流/級，當測試場效應管時選用基極源電壓/級。

24. 串聯電阻開關：當階梯信號選擇開關置于電壓/級的位置時，串聯電阻將串聯在被測管的輸入電路中。

25. 重復--關按鍵：彈出為重復，階梯信號重復出現;按下為關，階梯信號處于待觸發狀態。

26. 階梯信號待觸發指示燈：重復按鍵按下時燈亮，階梯信號進入待觸發狀態。

27. 單簇按鍵開關：單簇的按動其作用是使預先調整好的電壓(電流)/級，出現一次階梯信號后回到等待觸發位置，因此可利用它瞬間作用的特性來觀察被測管的各種極限特性。

28. 極性按鍵：極性的選擇取決于被測管的特性。

29. 測試臺。

30. 測試選擇按鍵：

⑴“左”、“右”、“二簇”：可以在測試時任選左右兩個被測管的特性，當置于“二簇”時，即通過電子開關自動地交替顯示左右二簇特性曲線，此時“級 / 簇”應置適當位置，以利于觀察。二簇特性曲線比較時，請不要誤按單簇按鍵。

⑵“零電壓”鍵：按下此鍵用于調整階梯信號的起始級在零電平的位置，見(22)項。

⑶“零電流”鍵：按下此鍵時被測管的基極處于開路狀態，即能測量ICEO特性。

31、32. 左右測試插孔：插上專用插座(隨機附件)，可測試F1、F2型管座的功率晶體管。

33、34、35、 晶體管測試插座。

36. 二極管反向漏電流專用插孔(接地端)。

37. 二簇移位旋鈕：在二簇顯示時，可改變右簇曲線的位置，更方便于配對晶體管各種參數的比較。

38. Y軸信號輸入：Y軸選擇開關置外接時，Y軸信號由此插座輸入。

39. X軸信號輸入：X軸選擇開關置外接時，X軸信號由此插座輸入。

40. 校準信號輸出端：1V、0.5V校準信號由此二孔輸出。

四、測試前注意事項

為保證儀器的合理使用，既不損壞被測晶體管，也不損壞儀器內部線路，在使用儀器前應注意下列事項：

1. 對被測管的主要直流參數應有一個大概的了解和估計，特別要了解被測管的集電極最大允許耗散功率PCM、最大允許電流ICM和擊穿電壓 BVEBO、BVCBO 。

2. 選擇好掃描和階梯信號的極性，以適應不同管型和測試項目的需要。

3. 根據所測參數或被測管允許的集電極電壓，選擇合適的掃描電壓范圍。一般情況下，應先將峰值電壓調至零，更改掃描電壓范圍時，也應先將峰值電壓調至零。選擇一定的功耗電阻，測試反向特性時，功耗電阻要選大一些，同時將X、Y 偏轉開關置于合適擋位。測試時掃描電壓應從零逐步調節到需要值。

4. 對被測管進行必要的估算，以選擇合適的階梯電流或階梯電壓，一般宜先小一點，再根據需要逐步加大。測試時不應超過被測管的集電極最大允許功耗。

5. 在進行ICM的測試時，一般采用單簇為宜，以免損壞被測管。

6. 在進行IC或ICM的測試中，應根據集電極電壓的實際情況選擇，不應超過本儀器規定的最大電流。

7. 進行高壓測試時，應特別注意安全，電壓應從零逐步調節到需要值。觀察完畢，應及時將峰值電壓調到零。

五、基本操作步驟

1. 按下電源開關，指示燈亮，預熱15分鐘后，即可進行測試。

2. 調節輝度、聚焦及輔助聚焦，使光點清晰。

3. 將峰值電壓旋鈕調至零，峰值電壓范圍、極性、功耗電阻等開關置于測試所需位置。

4. 對X、Y軸放大器進行10度校準。

5. 調節階梯調零。

6. 選擇需要的基極階梯信號，將極性、串聯電阻置于合適擋位，調節級/簇旋鈕，使階梯信號為10/簇，階梯信號置重復位置。

7. 插上被測晶體管，緩慢地增大峰值電壓，熒光屏上即有曲線顯示。

六、測試實例

1. 晶體管hFE和β值的測量

以NPN型3DK2晶體管為例，查手冊得知3DK2 hFE的測試條件為VCE =1V、IC=10mA。將光點移至熒光屏的左下角作座表零點。

2. 晶體管反向電流的測試

以NPN型3DK2晶體管為例，查手冊得知3DK2 ICBO、ICEO的測試條件為VCB、VCE均為10V。測試時，儀器部件的置位詳見表A-5。

逐漸調高“峰值電壓”使X軸VCB=10V，讀出Y軸的偏移量，即為被測值。

PNP型晶體管的測試方法與NPN型晶體管的測試方法相同?？砂礈y試條件，適當改變擋位，并把集電極掃描電壓極性改為“—”，把光點調到熒光屏的右下角(階梯極性為“+”時)或右上角(階梯極性為“—”時)即可。

3. 晶體管擊穿電壓的測試

以NPN型3DK2晶體管為例，查手冊得知3DK2 BVCBO、BVCEO、BVEBO的測試條件IC分別為100μA、200μA和100μA。

逐步調高“峰值電壓”，被測管的接法，Y軸IC=0.1mA時，X軸的偏移量為BVCEO值;被測管按圖A-30(b)的接法，Y軸IC=0.2m A 時，X軸的偏移量為BVCEO值;被測管按圖A-30(c)的接法，Y軸IC=0.1mA時，X軸的偏移量為 BVEBO值。

PNP型晶體管的測試方法與NPN型晶體管的測試法相似。

4. 穩壓二極管的測試

以2CW19穩壓二極管為例，查手冊得知2CW19穩定電壓的測試條件IR=3mA。測試時。

逐漸加大“峰值電壓”，即可在熒光屏上看到被測管的特性曲線。

讀數：正向壓降約0.7V，穩定電壓約12.5V。

5. 整流二極管反向漏電電流的測試

以2DP5C整流二極管為例，查手冊得知 2DP5 的反向電流應≤500nA。。

逐漸增大“峰值電壓”，在熒光屏上即可顯示被測管反向漏電電流特性。

讀數：IR=4div&TImes;0.2μA×0.1(倍率)=80 nA

測量結果表明，被測管性能符合要求。

七、晶體管測試儀使用注意事項

①使用儀器前，應檢查儀器有關旋鈕位置， “測試選擇”　　開關置于“關”， “峰值電壓”旋鈕調至零， “階梯作用”置于“關”。

②開啟電源，指示燈亮，預熱5min。調整“標尺亮度”，觀察時用紅色標尺，攝影時用黃色標尺。調整“輝度”，使屏幕上光點和線條至適中的亮度。調整“聚焦”及“輔助聚焦”旋鈕，使屏幕上顯示清晰的線條或亮點。

③進行基極階梯信號調零。將光點移至屏幕左下角作為坐標零點，進行基極階梯信號調零。當熒光屏上出現基極階梯信號后，按下測試臺上的“零電壓”鍵，觀察光點停留在熒光屏上的位置。復位后調節“階梯調零”旋鈕，使階梯信號的起始級光點仍在該處，則基極階梯信號的零位即被校準。

④根據被測管的類型(PNP型或NPN型)和接地形式(E接地或B接地)，選擇“極性”開關位置，然后插上被測晶體管。

⑤根據需要顯示的醢線和需要測試的參數，選擇相應的作用開關以及合適的量程，即可進行有關圖形顯示和參數測定。

大家都知道晶體管測量儀是各種家電維修的利器 電橋萬用表級別好工具，維修時候經常判斷已知損壞元件后 在更換新元件的同時 還不能解決故障 很多維修人員苦惱不堪，用這種儀器可以輕松判斷電容 電阻 等元件 品質等 自動檢測三極管NPN,PNP晶體管NP溝道場效應管，可控硅自動顯示在顯示屏上以及放大倍數，在應用的過程中，你喜歡用哪款晶體管測量儀器呢?

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