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        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 基本知識圖解

        返回列表來源:壹芯微 發(fā)布日期 2021-04-09 瀏覽:-

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識

        1. 增強(qiáng)型NMOS管

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        s:Source 源極,d:Drain 漏極,g:Gate 柵極,B:Base 襯底,在P型襯底擴(kuò)散上2個N 區(qū),P型表面加SiO2絕緣層,在N 區(qū)加鋁線引出電極。

        2.增強(qiáng)型PMOS管

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        在N型襯底上擴(kuò)散上2個P 區(qū),P型表面加SiO2絕緣層,在二個P 區(qū)加鋁線引出電極。PMOS與NMOS管的工作原理完全相同,只是電流和電壓方向不同。

        3.增強(qiáng)型NMOS管的工作原理

        正常工作時外加電源電壓的配置:

        (1)VGS=0, VDS=0:漏源間是兩個背靠背串聯(lián)的PN結(jié),所以d-s間不可能有電流流過,即iD≈0。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        (2)當(dāng)VGS>0,VDS=0時:d-s之間便開始形成導(dǎo)電溝道。 開始形成導(dǎo)電溝道所需的最小電壓稱為開啟電壓VGS(th)(習(xí)慣上常表示為VT)。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        溝道形成過程作如下解釋:此時,在柵極與襯底之間產(chǎn)生一個垂直電場(方向?yàn)橛蓶艠O指向襯底),它使漏-源之間的P型硅表面感應(yīng)出電子層(反型層)使兩個N 區(qū)溝通,形成N型導(dǎo)電溝道。如果,此時再加上VDS電壓,將會產(chǎn)生漏極電流iD。當(dāng)VGS=0時沒有導(dǎo)電溝道,而當(dāng)VGS 增強(qiáng)到>VT時才形成溝道,所以稱為增強(qiáng)型MOS管。并且VGS越大,感應(yīng)電子層越厚,導(dǎo)電溝道越厚,等效溝道電阻越小,iD越大。

        (3)當(dāng)VGS>VT,VDS>0后, 漏-源電壓VDS產(chǎn)生橫向電場:由于溝道電阻的存在,iD沿溝道方向所產(chǎn)生的電壓降使溝道上的電場產(chǎn)生不均勻分布。近s端電壓差較高,為VGS;近d端電壓差較低,為VGD=VGS-VDS,所以溝道的形狀呈楔形分布。

        1)當(dāng)VDS較小時:VDS對導(dǎo)電溝道的影響不大,溝道主要受VGS控制,所以VGS為定值時,溝道電阻保持不變,iD隨VDS 增加而線性增加。此時,柵漏間的電壓大于開啟電壓,溝道尚未夾斷,絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        2)當(dāng)VDS增加到VGS-VDS=VT時(即VDS=VGS-VT):柵漏電壓為開啟電壓時,漏極端的感應(yīng)層消失,溝道被夾斷,稱為“預(yù)夾斷”。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        3)當(dāng)VDS再增加時(即VDS>VGS-VT或VGD=VGS-VDS<VT):iD將不再增加而基本保持不變。因?yàn)閂DS再增加時,近漏端上的預(yù)夾斷點(diǎn)向s極延伸,使VDS的增加部分降落在預(yù)夾斷區(qū),以維持iD的大小,絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        伏安特性與電流方程:

        (1) 增強(qiáng)型NMOS管的轉(zhuǎn)移特性:在一定VDS下,柵-源電壓VGS與漏極電流iD之間的關(guān)系:

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        IDO是VGS=2VT時的漏極電流。

        (2) 輸出特性(漏極特性)

        表示漏極電流iD漏-源電壓VDS之間的關(guān)系: 絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        與三極管的特性相似,也可分為3個區(qū):可變電阻區(qū),放大區(qū)(恒流區(qū)、飽和區(qū)),截止區(qū)(夾斷區(qū))。可變電阻區(qū)管子導(dǎo)通,但溝道尚未預(yù)夾斷,即滿足的條件為:絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解°在可變電阻區(qū)iD僅受VGS的控制,而且隨VDS增大而線性增大。可模擬為受VGS控制的壓控電阻RDS,絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解放大區(qū)(溝道被預(yù)夾斷后),又稱恒流區(qū)、飽和區(qū)。條件是:絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解。特征是iD主要受VGS控制,與VDS幾乎無關(guān),表現(xiàn)為較好的恒流特性。 夾斷區(qū)又稱截止區(qū),管子沒有導(dǎo)電溝道( VGS<VT )時的狀態(tài),絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        4.耗盡型NMOS管

        在制造過程中,人為地在柵極下方的SiO2絕緣層中埋入了大量的K (鉀)或Na (鈉)等正離子 ;VGS=0,靠正離子作用,使P型襯底表面感應(yīng)出N型反型層,將兩個N 區(qū)連通,形成原始的N型導(dǎo)電溝道;VDS一定,外加正柵壓(VGS>0),導(dǎo)電溝道變厚,溝道等效電阻下降,漏極電流iD增大; 外加負(fù)柵壓VGS<0)時,溝道變薄,溝道電阻增大,iD減小;VGS負(fù)到某一定值VGS(off)(常以VP表示,稱為夾斷電壓),導(dǎo)電溝道消失,整個溝道被夾斷,iD≈0,管子截止 。

        耗盡型NMOS的伏安特性:

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        放大區(qū)的電流方程:絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解,IDSS為飽和漏極電流,是VGS=0時耗盡型MOS管的漏極電流。

        二、結(jié)型場效應(yīng)管(JFET)

        結(jié)構(gòu)與符號:

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        在N區(qū)兩側(cè)擴(kuò)散兩個P+區(qū),形成兩個PN結(jié)。兩個P+區(qū)相連,引出柵極g。N體的上下兩端分別引出漏極d和源極s。

        導(dǎo)電原理:絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        (1)VGS=0時,N型棒體導(dǎo)電溝道最寬(N型區(qū))。有了VDS后,溝道中的電流最大。

        (2)VGS<0時,耗盡層加寬(主要向溝道一測加寬),并向溝道中間延伸,溝道變窄。

        當(dāng)VGS<VP(稱為夾斷電壓)時,二個耗盡層增大到相遇,溝道消失,這時稱溝道夾斷,溝道中的載流子被耗盡。若有VDS電壓時,溝道電流也為零。所以屬于耗盡型FET,原理和特性與耗盡型MOSFET相似。所不同的是JFET正常工作時,兩個PN結(jié)必須反偏,如對N溝道JFET,要求VGS≤0。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        加上負(fù)VGS電壓和VDS電壓以后,VGD的負(fù)壓比VGS大,所以,二個反偏PN結(jié)的空間電荷區(qū)變得上寬下窄,使溝道形成楔形。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        JFET通過VGS改變半導(dǎo)體內(nèi)耗盡層厚度(溝道的截面積)控制iD,稱為體內(nèi)場效應(yīng)器件;MOSFET主要通過改變襯底表層溝道的厚度來控制iD,稱為表面場效應(yīng)器件。

        JFET的伏安特性(以N溝道JFET為例):伏安特性曲線和電流方程與耗盡型MOSFET相似。但VGS必定要反向偏置。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        三、場效應(yīng)管的主要參數(shù)

        1.直流參數(shù)

        開啟電壓VT: 增強(qiáng)型管的參數(shù);夾斷電壓VP:耗盡型管的參數(shù);飽和漏極電流IDSS:指耗盡型管在VGS=0時的漏極電流;輸入電阻 RGS(DC):因iG=0,所以輸入電阻很大。JFET大于107Ω,MOS管大于1012Ω。

        2.交流參數(shù)

        低頻跨導(dǎo)(互導(dǎo))gm:絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解,跨導(dǎo)gm反映了柵源電壓對漏極電流的控制能力,且與工作點(diǎn)有關(guān),是轉(zhuǎn)移特性曲線上過Q點(diǎn)切線的斜率。gm的單位是mS;交流輸出電阻rds:絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解,rds反映了漏源電壓對漏極電流的影響程度,在恒流區(qū)內(nèi),是輸出特性曲線上過Q點(diǎn)的切線斜率的倒數(shù)。其值一般為若幾十kΩ。

        3.極限參數(shù)

        最大漏-源電壓V(BR)DS :漏極附近發(fā)生雪崩擊穿時的VDS;最大柵-源電壓V(BR)GS :柵極與源極間PN結(jié)的反向擊穿電壓;最大耗散功率PDM:同三極管的PCM相似,當(dāng)超過PDM時,管子可能燒壞。

        絕緣柵型場效應(yīng)管之圖解

        絕緣柵型場效應(yīng)管是一種利用半導(dǎo)體表面的電場效應(yīng),由感應(yīng)電荷的多少改變導(dǎo)電溝道來控制漏極電流的器件,它的柵極與半導(dǎo)體之間是絕緣的,其電阻大于1000000000Ω。

        增強(qiáng)型:VGS=0時,漏源之間沒有導(dǎo)電溝道,在VDS作用下無iD。耗盡型:VGS=0時,漏源之間有導(dǎo)電溝道,在VDS作用下iD。

        1. 結(jié)構(gòu)和符號(以N溝道增強(qiáng)型為例)

        在一塊濃度較低的P型硅上擴(kuò)散兩個濃度較高的N型區(qū)作為漏極和源極,半導(dǎo)體表面覆蓋二氧化硅絕緣層并引出一個電極作為柵極。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        N溝道絕緣柵型場效應(yīng)管結(jié)構(gòu)動畫

        其他MOS管符號

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        2. 工作原理(以N溝道增強(qiáng)型為例)

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        (1) VGS=0時,不管VDS極性如何,其中總有一個PN結(jié)反偏,所以不存在導(dǎo)電溝道。

        VGS =0, ID =0

        VGS必須大于0

        管子才能工作。

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        (2) VGS>0時,在Sio2介質(zhì)中產(chǎn)生一個垂直于半導(dǎo)體表面的電場,排斥P區(qū)多子空穴而吸引少子電子。當(dāng)VGS達(dá)到一定值時P區(qū)表面將形成反型層把兩側(cè)的N區(qū)溝通,形成導(dǎo)電溝道。

        VGS >0→g吸引電子→反型層→導(dǎo)電溝道

        VGS↑→反型層變厚→ VDS ↑→ID↑

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        (3) VGS≥VT時而VDS較小時:

        VDS↑→ID ↑

        VT:開啟電壓,在VDS作

        用下開始導(dǎo)電時的VGS°

        VT = VGS —VDS

        絕緣柵場效應(yīng)管(IGFET) 的基本知識圖解

        (4) VGS>0且VDS增大到一定值后,靠近漏極的溝道被夾斷,形成夾斷區(qū)。

        VDS↑→ID 不變

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