MOS管，場效應管功率損耗如何測量

MOSFET/IGBT的開關損耗測試是電源調試中非常關鍵的環節。

1.1 功率損耗的原理圖和實測圖

一般來說，開關管工作的功率損耗原理圖如圖 1所示，主要的能量損耗體現在“導通過程”和“關閉過程”，小部分能量體現在“導通狀態”，而關閉狀態的損耗很小幾乎為0，可以忽略不計。

圖 1開關管工作的功率損耗原理圖

實際的測量波形圖一般如圖 2所示。

圖 2開關管實際功率損耗測試

1.2  MOSFET和PFC MOSFET的測試區別

對于普通MOS管來說，不同周期的電壓和電流波形幾乎完全相同，因此整體功率損耗只需要任意測量一個周期即可。但對于PFC MOS管來說，不同周期的電壓和電流波形都不相同，因此功率損耗的準確評估依賴較長時間（一般大于10ms），較高采樣率（推薦1G采樣率）的波形捕獲，此時需要的存儲深度推薦在10M以上，并且要求所有原始數據（不能抽樣）都要參與功率損耗計算，實測截圖如圖 3所示。

圖 3 PFC MOSFET功率損耗實測截圖

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