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        [常見問題解答]高壓SiC MOSFET柵氧老化行為研究及加速測試方法探索[ 2025-04-16 14:55 ]
        在高電壓、高溫、高頻的電力電子應用中,碳化硅MOSFET因其出色的材料特性逐漸取代傳統硅基器件,成為高壓領域的核心選擇。然而,器件的長期可靠性依然是制約其大規模應用的關鍵因素,特別是柵極氧化層的老化行為及其導致的性能退化問題,已成為研究和工業界共同關注的技術焦點。一、SiC MOSFET柵氧老化機制概述相較于硅器件,SiC MOSFET采用熱氧化工藝形成的柵極氧化層存在較多界面缺陷,源于碳原子在氧化過程中的難以完全去除。這些殘留的碳相關缺陷在高場高溫條件下會加速電子捕獲,導致閾值電壓漂移、柵漏電流上升,嚴重時甚至引
        http://www.kannic.com/Article/gysicmosfe_1.html3星

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