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來源:壹芯微 發(fā)布日期
2024-06-21 瀏覽:-一:精確識別晶閘管極性的步驟
晶閘管包括三個主要引腳:陽極(A極)、陰極(K極)以及控制極(G極)。為了確保正確識別這些引腳的極性,建議使用萬用表的二極管檢測功能。值得注意的是,晶閘管的內部結構可視為兩個串聯(lián)連接的三極管,具體示意圖見下。
在進行極性測試時,G極和K極之間形成了PN結。操作方法如下:
設置萬用表至二極管測試擋,然后用紅黑表筆分別觸碰晶閘管的兩個引腳。監(jiān)測屏幕數(shù)值,若顯示介于150至800之間,則可以確定紅色表筆接觸的是G極,黑色表筆接觸的是K極,未被接觸的則為A極。
二:晶閘管性能的全面檢驗方法
考慮到晶閘管的功能與NPN型三極管相似,我們可以通過設置萬用表至“hFE”擋位來進行性能檢驗,分為以下兩個階段:
第一階段:在不施加觸發(fā)電壓的情況下,檢查G極與A、K極之間是否導通。操作時,將A極和K極插入到萬用表NPN插座的“C”和“E”孔中,G極應懸空。在這種配置下,如果屏幕顯示“000”,說明A極與K極之間沒有導通,晶閘管處于正常狀態(tài)。
第二階段:在給G極施加觸發(fā)電壓后,再次檢查A、K極之間的導通狀態(tài)。具體操作是,A極和K極依舊連接在相應的插孔,同時將G極與A極短路后迅速斷開。此時,屏幕應顯示一個較高的數(shù)值或出現(xiàn)“1”溢出符號,表明A極與K極之間導通良好。
如果在這兩個測試階段中,晶閘管的表現(xiàn)均為正常,那么可以判定該晶閘管功能良好。反之,則表明晶閘管可能存在損壞或性能不佳的問題。
晶閘管(亦稱可控硅)首次由美國通用電氣公司在20世紀50年代開發(fā),并于1958年開始商業(yè)化。這種PNPN四層半導體設備具備三個極點:陽極,陰極和控制極。由于其獨特的硅整流特性,晶閘管能夠在高電壓和高電流的環(huán)境中穩(wěn)定工作,廣泛應用于可控整流、交流調壓、無觸點電子開關、逆變及變頻等高端電路中。
晶閘管的性能測試是驗證其功能的重要環(huán)節(jié)。雖然制造商通常會提供詳盡的性能數(shù)據(jù)和圖表供使用者參考,但自行進行功能測試仍是必要的。以下是一種使用萬用表的歐姆檔來鑒別引腳和評估晶閘管好壞的推薦方法:
優(yōu)質的晶閘管在A極與K極之間應顯示高阻值。因此,在用萬用表測試這兩個引腳之間的電阻時,不論連接方式如何,顯示都應為高阻值。此外,若G極與K極之間的逆向電阻顯著大于順向電阻,這也是晶閘管性能良好的標志。
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